-
MIMO 雷達系統測試工具和技術
多輸入多輸出 (MIMO) 等現代技術要求寬帶寬、相位一致和多通道分析。MIMO 雷達系統中的天線元獨立運行,可覆蓋較寬(通常為 180 度)的視場,無需進行定向調整。因此,掃描時間顯著縮短。MIMO 雷達利用時間、頻率或編碼技術,在接收器元素中對每個發射信號進行區分,從而提取目標屬性。
2024-02-22
MIMO 雷達系統 測試工具
-
為刻蝕終點探測進行原位測量
半導體行業一直專注于使用先進的刻蝕設備和技術來實現圖形的微縮與先進技術的開發。隨著半導體器件尺寸縮減、工藝復雜程度提升,制造工藝中刻蝕工藝波動的影響將變得明顯。刻蝕終點探測用于確定刻蝕工藝是否完成、且沒有剩余材料可供刻蝕。這類終點探測有助于最大限度地減少刻蝕速率波動的影響。
2024-01-22
刻蝕設備 傳感器 計量學測量
-
2024廣州國際新能源汽車功率半導體技術展5月與您相約廣州保利世貿博覽館
隨著汽車行業向更可靠、更高效、更安全、更智能的方向發展,半導體在汽車中的應用得到了極大的發展,加之車載信息娛樂和連接功能的日益普及,電動汽車(EV)的需求將會不斷增長,車輛中電子系統的集成度不斷提高以及自動駕駛技術的進步,都在推動汽車半導體行業散發巨大的潛力。
2024-01-15
新能源汽車 功率半導體 廣州保利世貿博覽館
-
如何使用單對以太網實施基于狀態的監控
在工廠自動化和工業物聯網 (IIoT) 中,通過基于狀態的監控 (CbM) 可深入了解資產的健康狀況,從而增加正常運行時間并提高生產率,降低維護成本,延長資產壽命并確保工人安全。雖然傳感器、診斷算法、處理能力方面的進步以及人工智能 (AI) 和機器學習 (ML) 技術的應用正在使 CbM 變得更加有用,但缺...
2024-01-08
以太網 狀態監控
-
項目申報|最高800萬!2023年度晉江市引進高層次人才團隊申報已開啟
為深入實施科技強市、人才強市戰略,吸引海內外優秀人才帶團隊、項目、技術前來晉江創業,引育一批具有自主知識產權的科技成果產業化落地,2023年度晉江市引進高層次人才團隊申報正式啟動啦!
2023-12-22
晉江市引進高層次人才團隊
-
使用補償 IC 測量流體流量
通過微機電系統和兩個壓力傳感器補償集成電路 (IC) 演示了用于生化和醫療目的的微流體流量測量。流體的流速可以通過精密加工通道上的壓降來確定。整個組件安裝在一個小型陶瓷混合組件上。
2023-12-14
IC測量 流體 流量
-
三線制PT100測溫容易忽略的設計細節
高精度三線制PT100測溫電路容易遇到PCB走線電阻差異導致的測量精度下降問題,看似簡單的走線,可能引入0.1℃及以上偏差。本文進行量化分析,并探討相應的解決方法。
2023-11-27
三線制 PT100 測溫電路
-
NTCRP的絕緣電阻和耐壓如何測試?
TDK的NTCRP系列(NTC熱敏電阻)廣泛應用于各種可靠性要求較高的應用中,包括電動汽車的驅動電機和電池、工業設備的溫度檢測等。而嚴格的絕緣電阻和絕緣耐壓測試是保障用戶使用安全性和可靠性的重要措施。
2023-11-19
NTCRP 絕緣電阻 測試
-
使用半大馬士革工藝流程研究后段器件集成的工藝
隨著技術推進到1.5nm及更先進節點,后段器件集成將會遇到新的難題,比如需要降低金屬間距和支持新的工藝流程。為了強化電阻電容性能、減小邊緣定位誤差,并實現具有挑戰性的制造工藝,需要進行工藝調整。為應對這些挑戰,我們嘗試在1.5nm節點后段自對準圖形化中使用半大馬士革方法。我們在imec生產...
2023-11-16
半大馬士革 后段器件
- 5mW待機功耗突圍戰!AC-DC電源待機功耗逼近物理極限
- 華為、地平線、大眾等企業引領汽車技術變革,來AMTS 2025了解更多汽車行業發展前景
- 關稅風暴下車企們的生存法則:漲價+清庫+轉產三軸突圍
- 從智能座艙到駕控大腦:AMTS帶你暢游上海車展黑科技海洋
- 智能無線工業傳感器設計完全指南
- 硅光技術新突破:意法半導體PIC100開啟數據中心高能效時代
- 新唐科技以AI、新能源、汽車電子新品引領行業未來,巡回發布會完美收官!
- 安森美公布 2025 年第一季度業績
- 鈑金成型又有突破:成本直降90%、周期減半!
- 電阻器分類、規格要素及全球頭部廠商對比分析
- 新唐科技以AI、新能源、汽車電子新品引領行業未來,巡回發布會完美收官!
- 硅光技術新突破:意法半導體PIC100開啟數據中心高能效時代
- 車規與基于V2X的車輛協同主動避撞技術展望
- 數字隔離助力新能源汽車安全隔離的新挑戰
- 汽車模塊拋負載的解決方案
- 車用連接器的安全創新應用
- Melexis Actuators Business Unit
- Position / Current Sensors - Triaxis Hall